EQCM-I MINI 电化学石英晶体微天平，是基于对石英晶片进行阻抗分析基础上的高度灵敏的质量传感器，测量共振频率及共振电导曲线的带宽或半峰宽（FWHM），它们与品质因子Q直接相关，品质因子Q是耗散因子D的倒数。
该产品能够测量石英晶片或所吸附薄膜的频率变化及能量耗散，进而分析反应过程中微小的质量变化，吸附层厚度变化等；能够判断膜的刚性或柔性，并且分析膜的粘弹性方面的性质；以及实时追踪分子排列、结构变化等过程。
同时测量共振频率和耗散因子
快速测量多个谐波震动频率（对于5MHz晶片，可以测到第13次谐波）
实现和Gamry电化学工作站一体化设计
温控范围是15°C 到60°C (精度± 0,02 °C)
电化学测量模块可供选择
可以扩展到2通道
和Windows® 10等操作系统PC计算机兼容。直接通过USB实现数据通讯
液相中标准耗散因子精度为 ~ 1 x 10-7
https://www.chem17.com/st342781/list_1420693.html