物理实验设备的产品特点
1.半导体能带理论、载流子运动规律的实验展示：示波器上观察动态显示的光电导变化信号，有助于直观理解过剩载流子的产生、复合过程。
2.工业标准检测仪器测试原理和方法的教学呈现：仪器参照国家标准设计制造，内部结构可视、直观，重点突出教学内容。
3.是太阳能电池原理实验的有益补充。
4.激光光源和微波均在样品台下方，故在放置样品时，不会对处于样品台上的样品形成视觉阻挡或干扰。
5.可对光强或光子面密度进行定量调节，进而可定量地研究光强对测量复合寿命的影响，及验证S-R-H模型的正确。
实验内容
1.研究表面钝化对复合寿命测量的影响
2.研究注入水平对复合寿命测量的影响
3.验证S-R-H模型的正确性并推算少子寿命
4.计算非平衡载流子的扩散系数和扩散长度
5.测量复合寿命的分布（选做）
知识点：非平衡载流子的产生和复合、复合寿命、少子寿命、表面复合、爱因斯坦方程、扩散长度。
物理实验设备的技术指标
本实验装置主要是由数字式硅片少子寿命实验仪、钝化剂、P型硅片、N型硅片等组成。
1.工作条件：温度0℃～40℃；相对湿度≤90％RH；大气压力86kPa～106kPa；电源电压～220（1±10％）V，电源频率～50（1±5％）Hz。
2.复合寿命测量范围：0.5us～30ms。
3.电阻率下限：≤1.0Ω?cm。
4.测量重复性：3%。
5.数字式硅片少子寿命实验仪
(1)微波中心频率：10.5GHz。
(2)脉冲激光：中心波长905nm，安装于样品台下方，光强可调节。
(3)激光电源：脉宽200ns，频率30Hz，下降沿≤50ns。
(4)样品台：含二维刻度尺，范围均为?80mm～+80mm，分度值1mm，带红外滤光片，下方安装激光源和微波源。
(5)光子面密度：4位数字显示，旋钮定量调节，单位：1013光子数/cm2，可定量地研究光强对测量复合寿命的影响和验证S-R-H模型。
(6)电源：～220V/50Hz。
6.钝化剂：100mL、浓度0.08mol/L碘乙醇钝化剂。
7.硅片盒：用于放置P型、N型硅片，6英寸透明圆盒，尺寸Φ180×43mm。
物理实验设备
http://www.swsddz.com/SonList-2346193.html
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