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赛默斐视薄膜表面瑕疵检测系统24h高精度检测

   日期:2021-11-03     浏览:31    
   赛默斐视薄膜表面瑕疵检测系统24h高精度检测
  近年来,薄膜生产企业为了加快产业快速发展,增强产业创新能力,在产品生产过程中采用先进设备进行薄膜表面的质量控制,从而实现-大限度地降低成产成本,获取销售利润。如今随着工业4.0的到来,机器视觉技术在工业自动化中逐渐起着十分重要的地位。薄膜瑕疵机器视觉检测系统用于检测各类薄膜产品在生产过程中表面出现的污点、蚊虫、孔洞、杂质等常见缺陷,系统可以在生产过程中及时的发现产品表面出现的疵点信息,实时反映生产线表面的缺陷信息,并进行瑕疵分类处理,完全取代人工肉眼进行瑕疵检测。
  关于SIMV薄膜表面检测系统检测原理:
  针对透光率高的薄膜材料,系统采用透射的打光检测方式进行检测,即光源在薄膜的下方,相机在薄膜的上方进行图像拍摄(对于不透明的材料则采用反射的打光方式,即光源与相机在所要检测面的同一侧)。产线运行时,系统通过编码器实时的采集产线运行状态信息并开始检测,系统将相机采集到的图像通过SIMV图像分析软件进行瑕疵处理,由于瑕疵与正常产品的图像在灰阶上存在明显差异,从而使得系统能够发现瑕疵,并通过进一步的计算、分析来确定瑕疵的大小、位置、类型等信息。
  系统功能:
  1.操作简单(防呆式操作),仅需“启动”、“停止”操作即可完成检测操作;
  2.精准的缺陷坐标定位,实时显示缺陷纵向横向位置、缺陷大小、直径、面积等;
  3.系统实时截取缺陷图片,同时声光报警,提示用户;
  4.包含产品信息模块,记录产品批次号、型号、规格、班号、人员等生产信息;
  5.实际记录米数,具有测宽功能;
  6.用户可根据产品自身对质量的要求,对缺陷检测大小在精度范围内进行设定;
  7.自动生成质量报表,对缺陷信息进行统计,用户可直观获得整卷产品的质量信息,一键导出EXCEL表格并打印;
  8.软件数据库可对生产的每卷材料进行精确的质量统计,详细的缺陷记录(大小和位置)和统计为生产工艺及设备状态调整提供了方便;离线分析,用于后续分切和质量管理,可有效保证产品质量;
  9.可与现场生产设备联动,如停机、减速、剔废等。

特别提示:本信息由相关企业自行提供,真实性未证实,仅供参考。请谨慎采用,风险自负。


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