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赛默斐视薄膜表面检测系统提高生产效率、节省成本

   日期:2021-11-03     浏览:26    
   赛默斐视薄膜表面检测系统提高生产效率、节省成本
  工业产品的表面瑕疵严重影响着产品本身的质量,要怎么避免表面瑕疵进行质量控制一直是生产企业所面临的-大问题,传统的人工检测不仅费用昂贵、检测人员容易疲劳以及容易瑕疵漏检等弊端,但这也已经难以适应高速的生产系统,要知道智能视觉检测在工业中的应用为表面瑕疵检测提供的新的解决方案。
  薄膜表面检测系统主要用于检测薄膜在生产过程中表面出现的黑点、晶点、划伤、破洞、线条、褶皱、蚊虫等缺陷,借助于由工业CCD相机、高亮LED线性聚光光源组成的薄膜表面缺陷检测的成像系统,及时准确的反应缺陷的的图片、形状、尺寸以及位置等具体信息,在为质量控制、产品评级提供真是准确数据的同时,有效的节约了生产成本、提高了产品质量。
  检测原理:
  针对透光率高的薄膜材料,系统采用透射的打光检测方式进行检测,即光源在薄膜的下方,相机在薄膜的上方进行图像拍摄(对于不透明的材料则采用反射的打光方式,即光源与相机在所要检测面的同一侧)。产线运行时,系统通过编码器实时的采集产线运行状态信息并开始检测,系统将相机采集到的图像通过SIMV图像分析软件进行瑕疵处理,由于瑕疵与正常产品的图像在灰阶上存在明显差异,从而使得系统能够发现瑕疵,并通过进一步的计算、分析来确定瑕疵的大小、位置、类型等信息。
  技术参数:
  检测对象:保护膜、涂布膜、PE膜、食品包装膜、太阳能薄膜、光学膜等等
  典型瑕疵:晶点、黑点、蚊虫、污点、线条、破洞等
  检测速度:Max:800m/min
  检测幅宽:任意(根据生产线定制)
  检测精度:0.1mm~1mm(取决于相机数量、产线幅宽及车速)
  瑕疵标识:自动声光报警、截取当前瑕疵图片及实时X/Y坐标瑕疵分布图显示
  历史记录:根据批次号自动记录每一卷薄膜瑕疵的图片、大小、分布位置等信息
  主要功能
  缺陷检测,定位坐标;
  实时显示检测结果,历史缺陷图片检索;
  声光报警,贴标,提供检测结果信号;
  产品质量统计分析,并以多种模式展现分析结果。
  无锡赛默斐视自成立以来一直专注于视觉检测技术的研究和应用,旨在帮助各行业企业提升产品质量,降低生产成本,实现产品质量检测的自动化和信息化。一直以来,赛默斐视专注于高水准的光学技术服务,并将自主研发技术作为核心竞争力,不断根据市场所需,创新研发出适应性产品,满足客户要求。公司核心产品包括:薄膜表面瑕疵在线检测系统,无纺布污点检测仪,纸病在线检测系统,带钢表面瑕疵检测系统等。

特别提示:本信息由相关企业自行提供,真实性未证实,仅供参考。请谨慎采用,风险自负。


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